財聯(lián)社4月25日電，來自奧地利格拉茨大學(xué)的研究人員近日開發(fā)了一種新的測量和成像方法，可在不需要任何染料或標簽的情況下解析小于光衍射極限的納米結(jié)構(gòu)。這種激光掃描顯微鏡新方法彌補了傳統(tǒng)顯微鏡和超分辨率技術(shù)之間的差距，有朝一日或可被用來觀察復(fù)雜樣品的精細特征。在國際光學(xué)出版集團的高影響力期刊《光學(xué)》上描述的這種新方法，是對激光掃描顯微鏡的改進，它使用強聚焦激光束照射標本。研究人員擴展了這項技術(shù)，不僅可以測量光與被研究標本相互作用后的亮度或強度，還可以檢測光場中編碼的其他參數(shù)。