財(cái)聯(lián)社4月25日電，來(lái)自?shī)W地利格拉茨大學(xué)的研究人員近日開(kāi)發(fā)了一種新的測(cè)量和成像方法，可在不需要任何染料或標(biāo)簽的情況下解析小于光衍射極限的納米結(jié)構(gòu)。這種激光掃描顯微鏡新方法彌補(bǔ)了傳統(tǒng)顯微鏡和超分辨率技術(shù)之間的差距，有朝一日或可被用來(lái)觀察復(fù)雜樣品的精細(xì)特征。在國(guó)際光學(xué)出版集團(tuán)的高影響力期刊《光學(xué)》上描述的這種新方法，是對(duì)激光掃描顯微鏡的改進(jìn)，它使用強(qiáng)聚焦激光束照射標(biāo)本。研究人員擴(kuò)展了這項(xiàng)技術(shù)，不僅可以測(cè)量光與被研究標(biāo)本相互作用后的亮度或強(qiáng)度，還可以檢測(cè)光場(chǎng)中編碼的其他參數(shù)。